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产品系列
产品描述
Ultim Max TEM,搭载于透射电子显微镜(TEM)主要用于纳米尺度成分分析和元素面分布分析。
全新设计80mm2的传感器,进一步接近样品并提供更多的x射线计数。UltimMax TEM结合了无窗设计和低噪音电子元器件 , 为 200kV下EDS分析提供高质量数据。
· 0.2 - 0.6 srad的立体角
· 对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
· 可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,可在1000°C的温度下采集谱图
旗舰款SDD传感器Ultim Max TLE,搭载于透射电子显微镜(TEM),经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
这一性能是通过优化的晶体形状,100mm2大面积晶体,无窗结构,优化的机械设计和Extreme级电子元器件来实现的。
0.5 - 1.1srad的立体角
对低能量x射线的灵敏度可提高8倍
可在400,000cps的计数率下进行定量分析
在原位实验中,在高至1000°C的温度下采集谱图
Xplore TEM是专门为120kV和200kV 透射电镜(TEM)的常规应用而设计的元素分析系统。使用新的 80mm2 传感器和聚合物薄窗口及低噪音电子元器件 , 为用户提供快速和准确的元素表征。
0.1 - 0.4 srad的立体角
从Be到Cf的元素检测
可在200,000cps的计数率下进行定量分析
SATW窗口为广泛的应用提供了极大的便利性